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1992年,Manz[1]等人提出了微全分析系统(μ-TAS)的概念,并采用微电子刻蚀技术制成了微芯片,使整个分析系统进一步小型化,并且分离速度可以达到秒级甚至毫秒级.目前,大部分芯片已实现了小型化,但相应的检测系统与芯片体积相比差别还比较大.已被广泛采用的激光诱导荧光检测方法就存在芯片与检测系统体积不匹配的问题.