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提出了一种快速、精确查找组合逻辑电路失效位置的方法。这种方法对高辐射电路的可靠性评估很有意义。这种方法是通过对电路失效原理的分析，以及对失效概率的估计，来查找组合电路的失效位置。整个查找过程在Matlab平台上实现，用ISCAS’85基准电路进行实验，所有电路均采用0．18μm标准CMOS工艺。结果表明，相对HSPICE随机仿真的方法，这种方法的速度提高了将近49倍，而且准确率达到94．7％。