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采用X射线衍射方法，研究高稳定化学结构的MgF2在30％Ag（质量分数，下同）掺杂下，在低真空中（≥30Pa）高温（≥600℃）烧结后，氧化成为MgO的过程。在烧结温度为600℃，恒温时间为2h时，XRD出现d为24326,2.1065,1.4896A的MgO衍射峰。随着烧结温度升高，MgF2的衍射峰逐渐减弱减少，MgO的衍射峰则逐渐增强增多。到1250℃时，MgF2的衍射峰全部消失。然而，将MGf2-30%Ag样品在高真空中（＜10^-3Pa)1000℃烧结，恒温2h，未观察到MgF2有氧化现象。如果将