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基于一阶R-C电路,根据电路动态性能测量电容C大小,较传统的测量方法其自动化水平及精度都有一定提升。采用上-下位机模式,在下位机中对R-C电路动态性能分析,获得电容测量值并上传至上位机,上位机对数据进行处理及误差分析,并自动生成数据文件保存。该测量仪经实践验证,操作简单、精度高、快速高效且扩展性及应用性较强。