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根据自由基发光理论．本文用MPL-A多参数化学发光分析系统测得了由Mn^＋3引发的淀粉自由基发光强度的变化曲线。阐述了自由基发光强度的变化规律；并通过对发光曲线的拟合发现：自由基的消失过程遵循logistic公式。通过分析得出x0即为自由基的半衰期，A1为x→0时样品的发光强度．A2表示x→＋∞时样品的发光强度，P为发光样品中影响自由基消失因素的系数表示。本研究是光电检测技术在淀粉工业中的新的应用，为淀粉自由基消失规律提供了数学模型。