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信息技术的不断发展，使人们对信息存储密度的要求不断提高。但随着记录密度的提高，单位信息位越来越小，晶粒尺寸也越来越小，磁记录介质的稳定性或抗干扰问题也引起了人们的关注。本文介绍了高密度磁记录介质的稳定性问题及研究进展，特别是利用损伤扩散方法研究高密度磁记录介质稳定性的基本思想、目前取得的主要结果、面临的问题和可能的解决办法。