论文部分内容阅读
统计过程控制(SPC)是质量管理中一种常用的工具,但由于高可靠微电子元器件生产企业绝大部分都是多品种、小批量生产,工序常规的SPC模型已经不能对这类生产型企业工序状态进行有效的监控。该文着重探讨分析一种嵌套回归SPC模型,这种SPC模型更适合成本较高的多品种、小批量生产模式,即能降低分析控制成本,又能很好地解决多品种、小批量生产统计过程控制所需数据不足的问题。