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采用溶胶-凝胶（sol-gel）法制备了Eu掺杂的SiO2干凝胶，分别用光致发光（PL）光谱、透射电镜（TEM）、扫描电镜（SEM）、红外吸收（IR）谱等分析手段对样品进行了表征，研究了SiO2的基质中Eu^3＋、Eu^2＋的发光特性以及退火温度对发射光谱的影响，并对其发光机理进行了分析。结果表明，样品掺杂均匀，颗粒尺寸大约在50-80nm，硼（B）离子进入SiO2网格，成为了基质的一部分，改变了基质的网络结构。当采用258nm激发样品时，随着退火温度的升高，红光发射强度先增强后减弱。对于经800℃退火处