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为了提高离子阱质谱仪的质谱分析性能,提出了一种基于多通道离子阱质谱仪的测控系统的软硬件设计方案。该测控系统采用ARM芯片S3C6410完成质谱分析的数据采集以及与计算机间的通信功能,采用可编程逻辑器件FPGA完成对质量分析过程的时序控制。通过对多通道离子阱数据的同时处理,该测控系统帮助离子阱质谱仪实现更高的质量分辨能力。