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针对发光二极管芯片检测系统位置配准的特殊性，建立了与之适应的位置配准模型。提出分步计算的方法，进行遗传算法优化，简化常规方法中的非线性求解问题。结果显示，该模型及其解法满足了发光二极管芯片位置配准要求，计算过程较为简便，易于数值求解。所提出的先进行常规求解，由常规解推演出搜索范围，而后进行遗传迭代搜索的方法结构简单、能实时在线检测、非接触及高精度等特点，对于其他图像模型的参数求解也具有很大的意义。