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针对反熔丝FPGA端口测试复杂度高和稳定性差的问题,提出了一种基于ATE的反熔丝FPGA的端口测试方法,该方法仅使用一段特殊编程的测试码就可以测试出相应的电特性.经过ATE测试验证,该测试方法可以有效提高近32％的测试效率,测试的准确性也得到了保证.
一种基于ATE的反熔丝FPGA测试方法研究
【摘 要】
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针对反熔丝FPGA端口测试复杂度高和稳定性差的问题,提出了一种基于ATE的反熔丝FPGA的端口测试方法,该方法仅使用一段特殊编程的测试码就可以测试出相应的电特性.经过ATE测试验证,该测试方法可以有效提高近32％的测试效率,测试的准确性也得到了保证.
【机 构】
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中科芯集成电路有限公司,江苏无锡214035
【出 处】
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电子质量
【发表日期】
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2021年10期
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