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基于相关模型的测试优化选择是复杂电子系统测试性设计中的一个重要问题。文中首先建立了测试优化选择的数学模型，然后提出一种改进的量子进化算法对其求解。算法核心在于根据测试选择的特点设计了一种新的适应度甬数，同时改进了基本量子进化算法的旋转角确定方法，既能防止算法限于局部极值，又能加快收敛速度。为了充分验证算法的有效性及先进性，将其应用于大量仿真实例。结果表明，与现有测试选择算法相比，该算法在求解精度和收敛速度方面均优于已有算法，因而适合于复杂电子系统的测试优化选择问题求解。