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目的研究缺陷型、非缺陷型精神分裂症患者在脑电图(EEG)方面的差异.方法采用国产ND-82B型八道EEG机对69例精神分裂症患者进行标准EEG描记,并对结果进行分析.结果缺陷型精神分裂症的EEG异常率明显高于非缺陷型精神分裂症,二者有显著性差异(P<0.01).结论提示缺陷型与非缺陷型患者相比,有更明显的病理性生物学基础.