纳米颗粒粒度分析的新进展--CPS高速离心式纳米粒度分析仪

来源 :中国粉体技术 | 被引量 : 0次 | 上传用户:fslihua
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1测量原理  CPS纳米颗粒粒度分析仪的示意图见图1,它采用的是差示沉淀法进行颗粒粒度的测量和分析.样品被注入到高速旋转的液体中,然后在离心力的作用下,样品被快速沉淀并通过检测头被检测并拾取.因为大小不同的颗粒到达检测头的时间不同,因此通过记录颗粒到达检测头的时间,就可以知道颗粒的大小,差式沉淀法的原理图如图2所示.  ……
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