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建立了电感耦合等离子体质谱法(ICP-MS)测定高纯二氧化锡电极材料中Cu,Cr,Mn,Co,Ni,Cd,Fe和Pb等关键性杂质离子的新方法。以2 m L浓HCl为介质,基于高温高压密闭溶样技术,在230℃时保持3 h可将0.1 g样品完全分解。进一步结合氮气吹扫氯化物基体分离技术,实现了150℃挥发温度时和1.5 h时间内单次〉99.9%的基体去除效率,有效消除了后续ICP-MS测定的基体效应以及潜在的质谱干扰。全分析流程加标回收率在100%±5%以内,6次样品平行测定值的相对标准偏差(RSD