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在远离Scherzer聚焦条件下，用200kV的高分辨电子显微镜拍摄了Li1-xNbO2（x≈0．7）高分辨像，再借助像解卷处理使之恢复为直接反映晶体投影结构的解卷像。在不同晶体厚度的解卷像上均能清楚地分辨间距为0．153nm的Nh和O原子柱，看不见Li原子．Nh和O原子的衬度随厚度变化的规律符合赝弱相位物体近似像衬理论。从像模拟得知，即使原始像的离焦量接近Scherzer聚焦条件，解卷处理也同样有助于提高像的质量，并分辨开单个的O原子柱．