论文部分内容阅读
为了对超级电容的寿命耐久性能进行研究,设计了以单片机、恒压恒流电源、电子负载为核心的超级电容充放电循环寿命耐久试验设备。l和J用恒压恒流电源对其大电流充电,电子负载为恒流放电,以单片机为控制核心,循环切换充放电继电器来检验超级电容的寿命可靠性。同时以高精度的AID、D/A转换模块对恒压恒流源、电子负载进行准确的控制和采集。具有友好的人机界面,而且支持试验历史数据查询和u盘数据存储等功能。