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在数字系统测试方法研究工作中，门级固定故障覆盖率已被沿用几十年，本文综述了近年来一些学者对此所作的分析，研究结果表明，单凭故障覆盖率，仍难以衡量测试工作的质量，用故障覆盖率来预料芯片测试筛选的的失误率，带有明显的局限性，从实效出发看问题，以１００％故障覆盖率为目标的结构测试花费代价很大，仍难以达到满意的结果，功能测试方法有逐渐走向成熟的趋势。