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在数字系统测试方法研究工作中,门级固定故障覆盖率已被沿用几十年,本文综述了近年来一些学者对此所作的分析,研究结果表明,单凭故障覆盖率,仍难以衡量测试工作的质量,用故障覆盖率来预料芯片测试筛选的的失误率,带有明显的局限性,从实效出发看问题,以100%故障覆盖率为目标的结构测试花费代价很大,仍难以达到满意的结果,功能测试方法有逐渐走向成熟的趋势。