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科学技术的发展，推动了各种高新技术行业的飞速进步，对于稀有矿产资源的需求量也在日益增加。钨和钼作为现代工业中重要的矿产资源，在地壳中的含量较少，而且存在着伴生的现象，其检测工作直接关系着两种金属的勘探和开采。文章利用熔片X射线荧光光谱法，对矿物中的钨和钼进行了测定和分析。实践证明，这种方法在测定矿物中钨和钼含量方面具有良好的效果。