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二次离子质谱（SIMS）分析主要用于半导体、地质等领域材料表面分析,随着科学仪器技术的发展,近年来,SIMS在生命科学领域中得到了越来越广泛的应用.SIMS可以实现对样品表面的质谱分析、化学成像以及深度剖析.三维SIMS成像分析的横向分辨率可达80~100nm,纵向分辨率1~5nm.但是,由于缺少特异性指示亚细胞结构的碎片离子,单细胞SIMS成像分析仍然面临着诸多挑战.激光扫描共聚焦显微成像（LSCM）作为-种单细胞成像技术已日趋成熟,可以对单细胞中的荧光分子或者对荧光标记的目标分子、细胞器成像,获得高分