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运用XPS和AES研究了Pt扩散阻挡层对PZT薄膜/Si界面休学结构和性能的影响:在PZT薄膜和Si工间增加Pt扩散阻挡层,可以抑制TiCx物种和TiSix物种的形成,促进PZT薄膜的形成反应。Pt扩散阻挡层的存在阻断了氧和Si的相互扩散反应,促进PZT物种形成钙钛矿型晶体结构,使得形成的PT薄膜具有和体相材料相摈 电常数和铁电性能。