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高速数字产品的设计者们面临着测试方面令人生畏的挑战。设计团队必须在严格的项目进度和有限的预算下设计出全新的功能和实现前所未有的品质。于是，FPGA正发挥着越来越重要的作用。ASIC的开发本身更为缓慢，仿真是其中心任务，保证ASIC第一次就能正常工作显得非常关键；快速的FPGA则与之不同，其开发以反复的系统内测试为中心。设计团队若使FPGA设计具有可测性的话，则可以削减数周、甚至数月的开发时间。