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本文就封头分层缺陷,通过应力理论计算且与电测结果比较得σ<sub>max</sub>=130MPa;将分层缺陷作为裂纹型缺陷按CVDA—1984进行脆断评定与疲劳寿命估算,缺陷允许,且仍可用12年半;由声发射检测,当p≤1.5MPa,缺陷稳定,当p≤1.75MPa,缺陷可以接受。因此在限定使用压力的状况下分层缺陷尚不存在危害性。