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机内测试（BIT）是一种提高系统测试性和诊断能力的重要技术，然而系统部件之间及部件内部存在的关联耦合关系往往导致BIT虚警；采用基于有向图的方法对BIT进行虚警分析，在系统级联图中对一种耦合关系提出同胚的概念，并给出了优化方法，给出BIT虚警分析步骤，分析报故部件的故障可信度和虚警可信度；仿真算例表明该方法可有效地应用于BIT虚警的分析。