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采用熔融玻璃法，用Axios型X射线荧光光谱仪（帕纳科公司）测定釉料中Fe2O3、Na2O、MgP、Al2O3、SiO2、P2O5、K2O、CaO、MnO、NiO、CuO、ZnO、ZrO2和Pb0等组分含量。使用理论α系数和经验系数法校正基体效应，分析结果与化学法基本相符，除Na2O、MgO、CaO外，其余组分12次测定的相对标准偏差均小于10％。