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通过对具有不同层间耦合强度的Bi2212单晶样品的磁滞回线的测量,得到了样品的临界电流密度Jc随层间耦合强度和磁场的变化关系.实验结果显示,样品的层间耦合减弱, Jc明显减小.同时发现Jc与磁场间存在Jc∝exp(-Hα)关系,进一步分析表明,Jc的这种磁场依赖关系是对数钉扎势垒模型的必然结果.