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Flash技术是当今存储技术的主流,它基于EPROM和E2PROM混合的技术。目前,FlashMemory被集成在绝大多数soc芯片中,于是FIashMemory测试就成了SoC电路测试中必不可少的一个步骤。本文通过对FlashP.OM的工作原理进行分析,详细解总FlashCELL,分别描述了NANDFlash和NoRFlash的工作方法。对Flash ROM的失效与可靠性问题及随之而来的测试要点进行列举,然后通过NoRFlash的一个典型应用进行分析,详细描述了其内嵌的Flash的用户模式和各种测试模式