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提出了一种基于OpenCV的基本电子元器件几何特性自适应测量方法。对图像进行预处理如形态学去噪、平滑滤波处理和二值化阈值分割,获得二值化黑白图像。选用Canny算子,检测获得该元器件边缘轮廓线后进行霍夫变换,并对数据进行一定程度的处理,可得到该元器件的几何特性。对于不同场景下的不同元器件,该方法可以自动匹配较合适的处理参数。在Visual Studio 2010和OpenCV2.3.1平台下实现该方法,由实验结果可知,该方法具有较高的精度与较快的速度。