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均匀介质样品放置在发射天线辐射近场区时,将会改变天线的输入阻抗。利用这种天线输入阻抗的变化,可以反演出介质材料的电磁参数。利用幅相检测芯片AD8302设计了一种工作频率在1.1~2.5GHz的宽带介质材料参数测量系统,该系统主要由宽频带定向天线和宽频带射频电路组成。通过利用所设计的参考电路有效地解决系统存在的相位模糊问题。在1.1~2.5GHz频段内,分别对2种已知电磁参数的不同介质样品进行了实测,测试结果表明所设计的测量系统使用简单、易实现、且具有较好的测量精度。