论文部分内容阅读
利用相衬显微镜结合化学腐蚀法,进行了沿(010)方向提拉生长的GdCa4O(BO3)3(GdCOB)晶体中的缺陷观。发现位错是(010)方向生长的晶体中的重要缺陷。在不同方向的晶体切片上观察了螺位错和刃位错蚀坑,位错塞积,平底蚀坑及尖底蚀坑。位错密度随晶体长度的变化而变化。在晶体的尾部观测到位错密度为103/cm2,而在晶体的初始部位位错密度很低,只有40/cm2。在晶体的X,Z及(401)方向的切片的正反两面观察到的位错蚀坑现象完全不同,可以认为GdCOB晶体为单畴极性晶体,自发极化方向沿Z轴方向。