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ＦＣＴ６芯片是一个集成了Ｉｎｔｅｌ８０３１微处理器及一些外围电路的嵌入式微控制器，它的集成度和复杂度高，又有嵌入式ＲＡＭ部件，而且芯片管脚数相对较少，必须要有一定的可测试性设计来简化测试代码，提高故障覆盖率。简要讨论了ＦＣＴ６芯片的以自测试为核心的可测试性设计框架，着重介绍了内建自测试的设计与实现，即：芯片中控制器ＰＬＡ和内嵌ＲＡＭ结构的内建自测试设计。测试代码开发过程中的仿真结果表明，这些可测试