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描述了一种像素大小为0．4mm的X射线阵列探测器系统的设计，探测器以闪烁陶瓷材料Gd2O2S：Tb耦合光电二极管阵列构成，可应用于几十到100keV的X射线数字辐射成像系统，可作为无损检测技术研究平台中的探测器系统。介绍了探测器的信号处理方法，给出了用该系统获取的实际图像。
0．4mm像素X射线阵列探测器的设计
【摘 要】
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描述了一种像素大小为0．4mm的X射线阵列探测器系统的设计，探测器以闪烁陶瓷材料Gd2O2S：Tb耦合光电二极管阵列构成，可应用于几十到100keV的X射线数字辐射成像系统，可作为无损检测技
【机 构】
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清华大学核能与新能源技术研究院
【出 处】
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核电子学与探测技术
【发表日期】
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2007年4期
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