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基于鼓泡塔反应器,研究了WFGD系统中Hg0再释放特性,并探索了芬顿(Fenton)试剂抑制Hg0再释放的效果及机理。结果表明:还原性离子SO3^2-、HSO^3-是引起Hg0再释放的主要原因。单独添加H2O2对Hg0再释放的抑制效果较差,但同时添加H2O2和Fe^3+、Fe^2+、Cu^2+等金属离子时可有效抑制Hg0再释放,其抑制效果为Fe^2+>Fe^3+>Cu^2+。芬顿试剂抑制Hg0再释放主要是由于氧化性基团OH·和OOH·可将Hg0氧化成Hg^2+。添加Fe^2