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随着集成电路制造技术的快速发展,系统芯片SOC(System-on-chip)的应用日益广泛。但SOC设计也遇到诸多挑战,测试就是其中的挑战之一。众所周知,测试问题是SOC设计的一个瓶颈。SOC的测试应包括各内核的测试、用户定义逻辑模块的测试以及各功能块(内核、用户定义逻辑模块)之间连接的测试。因此,SOC的测试是一项重要且耗时的工作。