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目的运用MRⅠ对Chiari Ⅰ畸形患者的幕上下结构进行测量，探讨Chiari Ⅰ畸形的发病机制。方法选择小脑扁桃体下疝者114例，不伴中枢神经系统疾患者100例作为对照组。Ⅰ在颅脑正中矢状面T1WⅠ上对幕上下结构进行测量。结果[（后脑宽×后脑长）/（后颅宽×后颅深）]值和（后颅宽×后颅深）值在两组间存在显著差异，其中前者比值在畸形组和对照组分别为1.42±0.60和0.95±0.20，畸形组比值明显高于对照组（P＜0.01）；后者在畸形组和对照组分别为2