一种用于提取LDD结构n—MOSFET热载流子应力下界面陷阱产生的改进方法

来源 :半导体学报 | 被引量 : 0次 | 上传用户:chenwu2005
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提出了一种新的基于电荷泵技术和直流电流法的改进方法,用于提取LDD n—MOSFET沟道区与漏区的界面陷阱产生.这种方法对于初始样品以及热载流子应力退化后的样品都适用.采用这种方法可以准确地确定界面陷阱在沟道区与漏区的产生,从而有利于更深入地研究LDD结构器件的退化机制.
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