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对于VLSI中具有邻域子空间的电路模块，提出了一种高效测试生成方法。利用该方法得到了行波进位、超前进位加法器的测试生成，并予以了硬件实现。8位、16位和32位两种加法器的测试实验表明，这些测试生成能够使单固定型故障的故障覆盖率达到100％，双故障覆盖率分别达到99．996％以上以及100％，故障定位率得到了显著提高。测试矢量的数目仅与邻域子空间的大小有关。由于原电路中加法器的复用，两种加法器测试生成的硬件实现仅需额外的一个逻辑与门，将硬件开销降至最小。