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<正> 众所周知,在磁粉探伤中选取磁化场方向很重要,但磁场方向与显现缺陷能力的关系,尚未有详细论述。为了确切了解磁化场方向对磁粉显现缺陷的影响,较好的方法是在具有不同方向缺陷的试件上进行磁粉探伤试验。此试验的难点是如何制作不同方向的缺陷,而使其它影响因素尽量保持不变。为了解决这个难点,我们设计了两种新的试验方法:弧形磁痕法和转动圆盘通电法。