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现有的测径仪在大霜提高测量精度受到一定限制，因而影响对产品的测量和控制精度，针对这一问题在对测径仪误差源进行理论分析的基础上，通过大量测量统计，用最小二乘等数学方法建立系统的数学模型，并通过计算机仿真，不断修改模型使数学模型与实验结果间的残差最小，从而选择出最佳的测径误差模型，有效地提高了测径精度。