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研究了一种含有不同壳层结构量子点的聚乙烯咔唑（PVK）/Cd Se量子点复合体系电双稳器件,结果发现基于无壳层量子点的器件电荷存储能力较差,随着壳层厚度的增加,器件的电学特性由双稳态向三稳态转变。通过电容-电压（C-V）的测试结果表明,壳层的厚度对于量子点的电荷捕获能力有重要的影响,从而导致器件表现出不同的存储特性。