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追求高性能，高集成度的产品往往采用多芯片组件技术，但是这项技术仍面临着许多难以解决的问题。只有解决了这些问题，才能得以广泛应用。这些问题中最棘手的是ＭＣＭ良品率难以令人接受，也达到不质量要求。借助于提出的大量ＭＣＭ测试方案，这一问题可大大消除。
多芯片组件测试原理及可测性设计
【摘 要】
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追求高性能，高集成度的产品往往采用多芯片组件技术，但是这项技术仍面临着许多难以解决的问题。只有解决了这些问题，才能得以广泛应用。这些问题中最棘手的是ＭＣＭ良品率难以令人接受
【出 处】
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国外电子测量技术
【发表日期】
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1999年2期
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