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<正> 半导体激光器的受激发射光谱和输出光功率(P)-电流(I)特性曲线都是表征其性能的重要数据。它们也是确定半导体激光器受激发射阈值电流(I_(th))的常规测量方法。但是发射光谱是给定工作电流(I)时测量的,必须尽可能多次测量不同I值时的发射光谱,同时仔细区别超辐射和受激发射光谱才能确定I_(th)值;而从P-I曲线的转折点或外推P-I曲线到P=0