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高分子液晶态向错结构在正交偏振片下呈现出具有不同数目黑刷子的纹影织构，是由于分子指向矢取向排列上的不连续性所引起的一种光学效应。近年来，高分子液晶态向错结构的研究已取得了较大进展，发展和应用片晶装饰、条带织构装饰和表面裂纹装饰等技术可以在电镜和偏光显微镜下直接观察各种向错结构。本文简要介绍高分子液晶态向列相的向错和反转壁结构的几何学、高强度向错以及近年在实验上观察各类型向错形态的研究进展。