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本文对平面平晶检定中如何实现二截面转位，以及条纹弯曲量与条纹间隔比值的取定，干涉条纹数目的取定等有争议的问题进行分析，探讨。
平面平晶检定中若干问题的探讨
【摘 要】
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本文对平面平晶检定中如何实现二截面转位，以及条纹弯曲量与条纹间隔比值的取定，干涉条纹数目的取定等有争议的问题进行分析，探讨。
【机 构】
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青海省计量测试研究所
【出 处】
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计量技术
【发表日期】
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1996年5期
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