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本文介绍了我们采用显微侧视法制作的光纤翘曲特性测试仪，并分析了光纤翘曲特性对光纤熔接特性的影响。
光纤翘曲特性测试仪
【摘 要】
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本文介绍了我们采用显微侧视法制作的光纤翘曲特性测试仪，并分析了光纤翘曲特性对光纤熔接特性的影响。
【机 构】
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武汉邮电科学研究院
【出 处】
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光通信研究
【发表日期】
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1999年3期
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