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在长寿命产品的可靠性增长试验过程中，由于人员、观测设备或其他方面的原因，可能会造成某些试验数据丢失或未观测到的现象。对这类小子样变总体缺失数据情形，提出了Bayes可靠性增长分析方法。首先利用Box—Tiao技术构造先验分布，然后利用非齐次Poisson过程原理和缺失数据的产生机制，得到可靠性增长缺失数据的似然函数，再用Bayes统计推断方法得到产品各研制阶段结束时的可靠性水平，同时给出了缺失数据下增长模型的拟合优度检验方法。最后通过一个示例说明了该方法在工程上的应用。