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本文应用计算机,绘出各类重掺Ⅲ-Ⅴ族化合物半导体在不同等离子频率ω<sub>p</sub>下的反射率曲线,从中找出了反射谱的高低频反射边在反射率极小值处所对应的频率ω<sub>1</sub>与ω<sub>2</sub>之和与ω<sub>p</sub>间的函数关系.并应用此关系对不同载流子浓度的重掺Ⅲ-Ⅴ族化合物半导体GaAs和Inp样品进行实验上的验证,获得了满意的结果.