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扫描测试是超大规模集成电路测试中最常用的一种技术．但在扫描测试过程中，扫描单元的频繁翻转会引起电路中过大的测试功耗，这对电路测试提出了新的挑战．提出了一种新颖的低功耗全扫描结构——PowerCut，通过对扫描链的修改，加入阻隔逻辑，有效降低扫描移位过程中的动态功耗，同时加入控制单元，使电路在扫描移位过程时进入低漏电流状态，降低了电路的静态功耗．实验表明该结构在较小的硬件开销范围内有效地减小了扫描测试功耗．