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很多情况都可以导致CMOS数字集成电路产生大的电源电流，但以CMOS的输入处于Vilmax与Vihmin之间的转折区而产生的大电流最为常见；而且其影响很重要，甚至会导致闩锁效应而对电路造成损坏。转折区的危险电平由管脚浮空、误操作、输入脉冲的上下沿和双向I／O这几种状态所产生。对每一种状态的影响及其原因进行了详细的分析，给出了解决的方法。对电路设计、试验、测试和分析具有一定的参考价值。