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采用溶胶-凝胶法,以氟化钾和V2O5为前驱体高温共熔后水淬得到掺钾V2O5溶胶,然后在云母基底上制备掺钾VO2薄膜.采用SEM、XRD、XPS分析薄膜表面形貌和微观结构,利用FTIR检测薄膜在不同温度下的红外透过率,确定钾掺杂薄膜的相变温度及滞后温宽.结果表明,K进入VO2晶格替代部分V4+,在品格中以K+的形式存在,掺杂后VO2薄膜相变温度明显降低,与未掺杂薄膜相比滞后温宽只有2℃,降低幅度较大.